1 引言
MOSFET管的導(dǎo)通電阻具有正的溫度特性,可自動(dòng)調(diào)節(jié)電流,因而易于并聯(lián)應(yīng)用。但由于器件自身參數(shù)(柵極電路參數(shù)及漏源極電路參數(shù)不一致)原因,并聯(lián)應(yīng)用功率MOSFET管會(huì)產(chǎn)生電流分配不均的問題,關(guān)于此問題,已有文獻(xiàn)進(jìn)行過分析,這里進(jìn)一步分析 MOSFET管并聯(lián)應(yīng)用時(shí)導(dǎo)通電阻Ron、柵閾電壓UT、跨導(dǎo)Gm等自身參數(shù)及部分電路參數(shù)對(duì)靜態(tài)和動(dòng)態(tài)電流分配的影響。
2 導(dǎo)通電阻Ron對(duì)靜態(tài)電流分配的影響
這里靜態(tài)是指器件開關(guān)過程已結(jié)束并進(jìn)入穩(wěn)定導(dǎo)通后的工作狀態(tài)。此時(shí),由于導(dǎo)通電阻Ron具有正的溫度系數(shù)KT,可抑制電流分配不均的程度,但不能根本消除電流分配不均現(xiàn)象。實(shí)踐證明,當(dāng)n只器件并聯(lián)時(shí),若其中只有1只器件具有較小的導(dǎo)通電阻Ron,這時(shí)靜態(tài)電流不均現(xiàn)象最為嚴(yán)重。設(shè)較小導(dǎo)通電阻為R1,其余器件的導(dǎo)通電阻為R2,并設(shè)其結(jié)溫為Tj=25℃時(shí)的導(dǎo)通電阻分別為 R10和R20,而結(jié)溫Tj≠25℃時(shí)的導(dǎo)通電阻分別為R1T和R2T,則有:
式中,In為MOSFET管的漏極電流,RTj為PN結(jié)到管殼的熱電阻。
若負(fù)載電流為I0,當(dāng)各器件不存在電流分配不均現(xiàn)象時(shí),各管漏極電流平均值為:
式中為漏極電流的不均勻度為導(dǎo)通電阻的不匹配度;M=I2BR10RTjKT,稱為功率MOSFET管導(dǎo)通電阻的自主補(bǔ)償系數(shù)。
當(dāng)并聯(lián)支路數(shù)n→∞時(shí),式(6)可簡化為:
在式(7)、(8)中再分別令M=0和n→∞,則均可得到:
A=B (9)
圖2是以IRFP064為例,根據(jù)式(6)~(9)計(jì)算出的漏極電流不均勻度A與導(dǎo)通電阻均勻度B間的關(guān)系曲線(以n為參變量),可得出如下結(jié)論:(1) 并聯(lián)器件數(shù)n相同的每一組曲線,漏極電流不均勻度A隨自主補(bǔ)償系數(shù)M的增大而下降;(2)并聯(lián)器件數(shù)n相同的每一組曲線,兩條曲線間的差距隨n的增大而增大;(3)并聯(lián)器件數(shù)n相同的每組曲線,隨n的減小而降低;(4)并聯(lián)器件的靜態(tài)電流不匹配度A有最大值,即A=B。所以,降低并聯(lián)器件的電流不匹配度的最有效方法就是提高并聯(lián)器件導(dǎo)通電阻的匹配程度。
3 閾值電壓UT對(duì)動(dòng)態(tài)電流分配的影響
動(dòng)態(tài)電流分配不均是指由于器件本身參數(shù)失配而使各并聯(lián)支路在開關(guān)過程中電流大小不一致的現(xiàn)象。原因很多,這里以圖3為例分析閾值電壓UT引起的電流分配不勻現(xiàn)象。
3.1 VT1、VT2均未導(dǎo)通時(shí)的柵極電壓,0→t1時(shí)段,iD1=iD2=0
柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)由負(fù)半周進(jìn)人正半周后,信號(hào)源Ug向兩管的柵極電容Cgs充電,即:
3.2 僅VT1管導(dǎo)通時(shí)的柵極電壓,t1~t2時(shí)段
在t1~t2時(shí)間段內(nèi),iD1>0,iD2=0。對(duì)其整理,得到二階微分方程組:
式中,變量系數(shù)的數(shù)量級(jí)為A≈10-8,B≈10-5,C≈-10-13。下面分析中認(rèn)為B>>A>>C??紤]t1~t2時(shí)間段變量x的初始條件,t=0時(shí)(即上一階段t=t1時(shí));x=UT1;并選擇x'=0,并考慮微分方程中變量系數(shù)的數(shù)量級(jí)關(guān)系,得此微分方程組的解為:
3.3 兩管均導(dǎo)通時(shí)的柵極電壓,時(shí)段t2~∞
在t2~∞時(shí)間段內(nèi),iD1>0,iD2>0根據(jù)圖3,可整理得出二階微分方程組為:
式中,C=2RgCgdgm(L0+LS),同上述略有差異,但這種差異對(duì)結(jié)果影響甚微,予以忽略。
考慮本時(shí)段變量),的初始條件,t=0時(shí)(即上一階段t=t2時(shí)),y=UT2;并選擇y'=y(t2),得此微分方程組的解為:
此時(shí),兩個(gè) 極電流的差達(dá)到最大值,即:
式(26)~式(27)反映了并聯(lián)應(yīng)用的功率MOSFET極電流分配不勻程度及其與器件參數(shù)、電路參數(shù)的關(guān)系,以上分析利用了近似關(guān)系式B> >A>>C,當(dāng)不滿足該關(guān)系時(shí),以上分由式(26)~(27)可以看出,兩漏極電流分配不均的程度與管子參數(shù)gm、UT1、UT2、 Cgs、Cgd和電路參數(shù)Rg、Ls、Lo等都有密切關(guān)系。根據(jù)場(chǎng)效應(yīng)管IRFP064的典型參數(shù)及典型電路參數(shù)應(yīng)用式(10)、(15)、(16)、 (22)、(23)得到曲線如圖4所示。當(dāng)?shù)玫降穆O電流的不均勻程度及所需時(shí)間隨管子參數(shù)和電路參數(shù)的變化關(guān)系如圖5、圖6所示。
4 結(jié)束語
通過以上分析,要減小并聯(lián)應(yīng)用的MOSFET管電流分配不勻的影響,當(dāng)應(yīng)用電路采用如圖3所示的控制方式時(shí),可采取以下措施:(1)盡量選擇UT、gm、Ron等參數(shù)對(duì)稱的管子,這是最基本的方法;(2)適當(dāng)引入源極電感Ls,這樣既可提高漏極電流iD 的均勻度,又不至于明顯增大上升時(shí)間;(3)在漏極電流如的上升時(shí)間滿足要求的情況下,盡量減小柵極電阻Rg;(4)通過合理安排元器件及合理布線,盡量減小漏極分布電感。
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