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  • 集成電路的檢測(cè)方法介紹
    • 發(fā)布時(shí)間:2021-12-31 16:26:32
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    集成電路的檢測(cè)方法介紹
    現(xiàn)在的電子產(chǎn)品往往由于一塊集成電路損壞,導(dǎo)致一部分或幾個(gè)部分不能正常工作,影響設(shè)備的正常使用;而且集成電路的型號(hào)又多,內(nèi)部電路千變?nèi)f化,所以檢測(cè)集成電路的好壞也比較復(fù)雜。因此,下面將介紹一些常用的檢測(cè)方法:
    1.開(kāi)路測(cè)量電阻法
    開(kāi)路測(cè)量電阻法是指在集成電路未與其它電路連接時(shí),通過(guò)測(cè)量集成電路各引腳與接地引腳之間的電阻來(lái)判別好壞的方法。
    集成電路都有一個(gè)接地引腳(GND),其它各引腳與接地引腳之間都有一定的電阻,由于同型號(hào)的集成電路內(nèi)部電路相同,因此同型號(hào)的正常集成電路的各引腳與接地引腳之間的電阻均是相同的。根據(jù)這一點(diǎn),可使用開(kāi)路測(cè)量電阻的方法來(lái)判別集成電路的好壞。
    在檢測(cè)時(shí),萬(wàn)用表?yè)苤罵×100Ω擋,紅表筆固定接被測(cè)集成電路的接地引腳,黑表筆依次接其他各引腳,如圖1所示,測(cè)出并記下各引腳與接地引腳之間的電阻,然后用同樣的方法測(cè)出同型號(hào)的正常集成電路的各引腳對(duì)地電阻,再將兩個(gè)集成電路各引腳對(duì)地電阻一一對(duì)照,如果兩者完全相同,則被測(cè)集成電路正常,如果有引腳電阻差距很大,則被測(cè)集成電路損壞。在測(cè)量各引腳電阻最好用同一擋位,如果因某引腳電阻過(guò)大或過(guò)小難以觀察而需要更換擋位時(shí),則測(cè)量正常集成電路的該引腳電阻時(shí)也要換到該擋位。這是因?yàn)榧呻娐穬?nèi)部大部分是半導(dǎo)體元件,不同的歐姆擋提供的電流不同,對(duì)于同一引腳,使用不同歐姆擋測(cè)量時(shí)內(nèi)部元件導(dǎo)通程度有所不同,故不同的歐姆擋測(cè)同一引腳得到的阻值可能有一定的差距。
    集成電路
    圖1 開(kāi)路測(cè)量電阻示意圖
    采用開(kāi)路測(cè)電阻法判別集成電路好壞比較準(zhǔn)確,并且對(duì)大多數(shù)集成電路都適用,其缺點(diǎn)是檢測(cè)時(shí)需要找一個(gè)同型號(hào)的正常集成電路作為對(duì)照,解決這個(gè)問(wèn)題的方法是平時(shí)多測(cè)量一些常用集成電路的開(kāi)路電阻數(shù)據(jù),以便以后檢測(cè)同型號(hào)集成電路時(shí)作為參考,另外也可查閱一些資料來(lái)獲得這這方面的數(shù)據(jù)。
    圖2是一種常用的內(nèi)部有四個(gè)運(yùn)算放大器的集成電路LM324,表1中列出其開(kāi)路電阻數(shù)據(jù),測(cè)量使用數(shù)字萬(wàn)用表200kΩ擋,表中有兩組數(shù)據(jù),一組為紅表筆接11腳(接地腳)、黑表筆接其他各腳測(cè)得的數(shù)據(jù),另一組為黑表筆接11腳、紅表筆接其他各腳測(cè)得的數(shù)據(jù),在檢測(cè)LM324好壞時(shí),也應(yīng)使用數(shù)字萬(wàn)用表的200kΩ,再將實(shí)測(cè)的各腳數(shù)據(jù)與表中數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照來(lái)判別所測(cè)集成電路的好壞。
    集成電路
    圖2 集成電路LM324
    表1 LM324各引腳對(duì)地的開(kāi)路電阻數(shù)據(jù)
    集成電路
    2.在路檢測(cè)法
    在路測(cè)量法是利用電壓測(cè)量法、電阻測(cè)量法及電流測(cè)量法等,通過(guò)在電路上測(cè)量集成電路的各引腳電壓值、電阻值和電流值是否正常的方法。
    2.1在路直流電壓測(cè)量法
    在路直流電壓測(cè)量法:是在通電的情況下,用萬(wàn)用表直流電壓擋測(cè)量集成電路各引腳對(duì)地電壓,再與參考電壓進(jìn)行比較來(lái)判斷故障的方法。
    在路直流電壓測(cè)量法使用要點(diǎn)如下:
    (1)為了減小測(cè)量時(shí)萬(wàn)用表內(nèi)阻的影響,盡量使用內(nèi)阻高的萬(wàn)用表。例如MF47型萬(wàn)用表直流電壓擋的內(nèi)阻為20kΩ/V,當(dāng)選擇10V擋測(cè)量時(shí),萬(wàn)用表的內(nèi)阻為200kΩ,在測(cè)量時(shí),萬(wàn)用表內(nèi)阻會(huì)對(duì)被測(cè)電壓有一定的分流,從而使被測(cè)電壓較實(shí)際電壓略低,內(nèi)阻越大,對(duì)被測(cè)電路的電壓影響越小,MF50型萬(wàn)用表直流電壓擋的內(nèi)阻較小,為10kΩ/V,使用它測(cè)量時(shí)對(duì)電路電壓影響較MF47型萬(wàn)用表更大。
    (2)在檢測(cè)時(shí),首先測(cè)量電源腳電壓是否正常,如果電源腳電壓不正常,可檢查供電電路,如果供電電路正常,則可能是集成電路內(nèi)部損壞,或者集成電路某些引腳外圍元件損壞,進(jìn)而通過(guò)內(nèi)部電路使電源腳電壓不正常。
    (3)在確定集成電路的電源腳電壓正常后,才可進(jìn)一步測(cè)量其它引腳電壓是否正常。如果個(gè)別引腳電壓不正常,先檢測(cè)該腳外圍元件,若外圍元件正常,則為集成電路損壞,如果多個(gè)引腳電壓不正常,可通過(guò)集成電路內(nèi)部大致結(jié)構(gòu)和外圍電路工作原理,分析這些引腳電壓是否因某個(gè)或某些引腳電壓變化引起,著重檢查這些引腳外圍元件,若外圍元件正常,則為集成電路損壞。
    (4)有些集成電路在有信號(hào)輸入(動(dòng)態(tài))和無(wú)信號(hào)輸入(靜態(tài))時(shí)某些引腳電壓可能不同,在將實(shí)測(cè)電壓與該集成電路的參考電壓對(duì)照時(shí),要注意其測(cè)量條件,實(shí)測(cè)電壓也應(yīng)在該條件下測(cè)得。例如彩色電視機(jī)圖紙上標(biāo)注出來(lái)的參考電壓通常是在接收彩條信號(hào)時(shí)測(cè)得的,實(shí)測(cè)時(shí)也應(yīng)盡量讓電視機(jī)接收彩條信號(hào)。
    (5)有些電子產(chǎn)品有多種工作方式,在不同的工作方式下和工作方式切換過(guò)程中,有關(guān)集成電路的某些引腳電壓會(huì)發(fā)生變化,對(duì)于這種集成電路,需要了解電路工作原理才能作出準(zhǔn)確的測(cè)量與判斷。例如DVD機(jī)在光盤(pán)出、光盤(pán)入、光盤(pán)搜索和讀盤(pán)時(shí),有關(guān)集成電路某些引腳電壓會(huì)發(fā)生變化。
    集成電路各引腳的直流電壓參考值可以參看有關(guān)圖紙或查閱有關(guān)資料來(lái)獲得。
    2.2在路電阻測(cè)量法
    在路電路測(cè)量法是在切斷電源的情況下,用萬(wàn)用表歐姆擋測(cè)量集成電路各引腳及外圍元件的正反向電阻值,再與參考數(shù)據(jù)相比較來(lái)判斷故障的方法。
    在路電阻測(cè)量法使用要點(diǎn)如下:
    (1)測(cè)量前一定要斷開(kāi)被測(cè)電路的電源,以免損壞元件和儀表,并避免測(cè)得的電阻值不準(zhǔn)確。
    (2)萬(wàn)用表R×10kΩ擋內(nèi)部使用9V電池,有些集成電路工作電壓較低,如3.3V、5V,為了防止高電壓損壞被測(cè)集成電路,測(cè)量時(shí)萬(wàn)用表最好選擇R×100Ω擋或R×1kΩ擋。
    (3)在測(cè)量集成電路各引腳電阻時(shí),一根表筆接地,另一根表筆接集成電路各引腳,如圖3所示,測(cè)得的阻值是該腳外圍元件(R1、C)與集成電路內(nèi)部電路及有關(guān)外圍元件的并聯(lián)值,如果發(fā)現(xiàn)個(gè)別引腳電阻與參考電阻差距較大,先檢測(cè)該引腳外圍元件,如果外圍元件正常,通常為集成電路內(nèi)部損壞,如果多數(shù)引腳電阻不正常,集成電路損壞的可能性很大,但也不能完全排除這些引腳外圍元件損壞。
    集成電路
    圖3 測(cè)量集成電路的在路電阻
    2.3在路總電流測(cè)量法
    在路總電流測(cè)量法是指測(cè)量集成電路的總電流來(lái)判斷故障的方法。
    由于集成電路內(nèi)部元件大多采用直接連接方式組成電路,當(dāng)某個(gè)元件被擊穿或開(kāi)路時(shí),通常對(duì)后級(jí)電路有一定的影響,從而使得整個(gè)集成電路的總工作電流減小或增大,測(cè)得集成電路的總電流后再與參考電流比較,過(guò)大、過(guò)小均說(shuō)明集成電路或外圍元件存在故障。電子產(chǎn)品的圖紙和有關(guān)資料一般不提供集成電路總電流參考數(shù)據(jù),該數(shù)據(jù)可在正常電子產(chǎn)品的電路中實(shí)測(cè)獲得。
    在路測(cè)量集成電路的總電流如圖4所示,在測(cè)量時(shí),既可以斷開(kāi)集成電路的電源引腳直接測(cè)量電流,也可以測(cè)量電源引腳的供電電阻兩端電壓,然后利用I=U/R來(lái)計(jì)算出電流值。
    集成電路
    圖4 集成電路的總電流測(cè)量
    3.排除法和代換法
    不管是開(kāi)路測(cè)量電阻法,還是在路檢測(cè)法,都需要知道相應(yīng)的參考數(shù)據(jù)。如果無(wú)法獲得參考數(shù)據(jù),可使用排除法和代換法。
    3.1排除法
    在使用集成電路時(shí),需要給它外接一些元件,如果集成電路不工作,可能是集成電路本身?yè)p壞,也可能是外圍元件損壞。排除法是指先檢查集成電路各引腳外圍元件,當(dāng)外圍元件均正常時(shí),外圍元件損壞導(dǎo)致集成電路工作不正常的原因則可排除,故障應(yīng)為集成電路本身?yè)p壞。
    排除法使用要點(diǎn)如下:
    (1)在檢測(cè)時(shí),最好在測(cè)得集成電路供電正常后再使用排除法,如果電源腳電壓不正常,先檢查修復(fù)供電電路。
    (2)有些集成電路只需本身和外圍元件正常就能正常工作,也有些集成電路(數(shù)字集成電路較多)還要求其它電路送有關(guān)控制信號(hào)(或反饋信號(hào))才能正常工作,對(duì)于這樣的集成電路,除了要檢查外圍元件是否正常外,還要檢查集成電路是否接收到相關(guān)的控制信號(hào)。
    (3)對(duì)外圍元件集成電路,使用排除法更為快捷。對(duì)外圍元件很多的集成電路,通常先檢查一些重要引腳的外圍元件和易損壞的元件。
    3.2代換法
    代換法是指當(dāng)懷疑集成電路可能損壞時(shí),直接用同型號(hào)正常的集成電路代換,如果故障消失,則為原集成電路損壞,如果故障依舊,則可能是集成電路外圍元件損壞、更換的集成電路不良,也可能是外圍元件故障未排除導(dǎo)致更換的集成電路又被損壞,還有些集成電路可能是未接收到其它電路送來(lái)的控制信號(hào)。
    代換法使用要點(diǎn)如下:
    (1)由于在未排除外圍元件故障時(shí)直接更換集成電路,可能會(huì)使集成電路再次損壞,因此,對(duì)于工作在高電壓、大電流下的集成電路,最好在檢查外圍元件正常的情況下才更換集成電路,對(duì)于工作在低電壓下的集成電路,也盡量在確定一些關(guān)鍵引腳的外圍元件正常的情況下再更換集成電路。
    (2)有些數(shù)字集成電路內(nèi)部含有程序,如果程序發(fā)生錯(cuò)誤,即使集成電路外圍元件和有關(guān)控制信號(hào)都正常,集成電路也不能正常工作,對(duì)于這種情況,可使用一些設(shè)備重新給集成電路寫(xiě)入程序,或更換已寫(xiě)入程序的集成電路。
    以上就是檢測(cè)集成電路好壞的方法介紹了。目前集成電路不僅在工、民用電子設(shè)備如收錄機(jī)、電視機(jī)、計(jì)算機(jī)等方面得到廣泛的應(yīng)用,同時(shí)在軍事、通訊、遙控等方面也得到廣泛的應(yīng)用。并且用集成電路來(lái)裝配電子設(shè)備,其裝配密度比晶體管可提高幾十倍至幾千倍,設(shè)備的穩(wěn)定工作時(shí)間也可大大提高。
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