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  • 什么是Qg,MOS管Qg的概念詳解
    • 發(fā)布時間:2020-11-26 17:17:01
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    什么是Qg,MOS管Qg的概念詳解
    MOS管Qg的概念解析
    MOS管Qg概念
    MOS管Qg概念
    Qg(柵極電荷):柵極電荷Qg是使柵極電壓從0升到10V所需的柵極電荷,是指MOS開關(guān)完全打開,Gate極所需要的電荷量。
    雖然MOS的輸入電容,輸出電容,在反饋電容是一項(xiàng)非常重要的參數(shù),但是這些參數(shù)都是一些靜態(tài)參數(shù)。
    靜態(tài)時,Cgd通常比Cgs小,實(shí)際在MOS應(yīng)用中,當(dāng)個Gate加上驅(qū)動電壓后,于Mill效應(yīng)有關(guān)聯(lián)的Cgd會隨著Drain極電壓變化而呈現(xiàn)非線性變化,而且其電容值會比Cgs大20倍以上雖然Cgs也會隨著Grain-Source電壓變化,但是其數(shù)值變化不大,通常會增大10%-15%左右。所以很難用輸入,輸出電容來衡量MOS的驅(qū)動特性。
    1.測試電路和波形
    通常用Qg(柵極電荷)來衡量MOS的驅(qū)動特性
    MOS管Qg概念
    MOS管Qg概念
    如上圖1.3(1)在t0-t1時刻,Vgs開始慢慢的上升直到Vgs(th),DS之間電流才開始慢慢上升,同時Cgs開始充電,在此期間Cgd和Cgs相比可以忽略;
    (2)t1-t2時刻,Cgs一直在充電,在t2時刻,Cgs充電完成,同時Id達(dá)到所需要的數(shù)值,但是Vds并沒有降低;
    (3)t2-t3時刻,VDS開始下降,Cgs充電完成,而且Vgs始終保持恒定,此時主要對Cgd充電,此段時間內(nèi),Cgd的電容值變大,在t3時刻Cgd充電完成,通常這個時間要比t1-t2長很多;
    (4)在t3-t4時刻,t3時刻Cgd和ICgsE已經(jīng)充電完成,VGS電壓開始上.升直到驅(qū)動IC的最高直流電壓。
    所以圖1.3中所標(biāo)識的(Qgd+Qgs)是MOS開關(guān)完全打開所需要的最小電荷量。實(shí)際計(jì)算Qg的數(shù)值為t0-t4時刻所需要的總電荷。
    根據(jù)Qg可以很容易計(jì)算出MOS管在一定的驅(qū)動電流下完全打開需要的時間,Q=CV,I=C/T,所以Q=IxT。
    2. Qg和ID和VDS等的關(guān)系
    (1)Qg會隨著VDD的增加而增大;
    (2)Qg會隨著ID的增加而增大,因?yàn)镮D對應(yīng)的Vgs(th)也增加,響應(yīng)增加了Qg;但是增加的電荷量并不明顯
    (3)Ciss大的MOS并不表示其Qg就大,跨導(dǎo)是要考慮的一個因數(shù)
    MOS管Qg概念-Qg測試
    1.測試電路
    用信號發(fā)生器產(chǎn)生60KHz方波,輸入到L6386的LIN(PIN1)在LVG(PIN9)和PGND(PIN8)兩端產(chǎn)生相應(yīng)的驅(qū)動方波來驅(qū)動MOS,MOS的VDS沒有接電源。其中R2=24Ω。
    當(dāng)R1=56Ω,測試結(jié)果如下:
    MOS管Qg概念
    采用了PCB上的下橋MOS管的電路連接,圖2.1中Isense還接有一0.1Ω的取樣電阻到PCB的地。
    黃-信號發(fā)生器到SGND的波形,即LIN處的電壓波形;
    紅-LVG到SGND的波形;
    藍(lán)-LVG和PGND之間的電壓波形;(差分探棒測試)
    綠-MOS的Gate和PGND之間的電壓波形;(差分探棒測試)
    (1) 紅和藍(lán)之間的延時主要是因?yàn)樘桨舻念愋筒灰粯铀鶎?dǎo)致,藍(lán)、綠之間就沒有延時;
    (2)在Rg= 80Ω(R1+R2) 時,MOS完全打開的延時為160nS。
    估算Qg_min:Qg_min=VCCxtd/(R1+R2)=15x160/80=30nC,和Datasheet中的87nC相差很大。
    同時測試R1=180Ω時,td=379nS,估算Qg_min=15/204x379=27.8nC,和80Ω的計(jì)算結(jié)果基本一致。
    MOS管Qg概念
    取下橋的驅(qū)動電阻為56Ω,然后考慮到VDD和ID的影響,將td時間為1.5的系數(shù)。
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