MOS管作為半導(dǎo)體行業(yè)最基本的元器件之一,在電子線路中,MOS管一般被用以功率放大電路或開關(guān)電源電路而被廣泛運用。下面冠華偉業(yè)就有關(guān)于MOS管工作原理為您詳細解讀,來進行MOSFET內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析。
何為MOS管
MOS管有的時候也稱作絕緣柵場效應(yīng)管,因為它歸屬于場效應(yīng)管中的絕緣柵型,全名是金屬—氧化物—半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管或稱金屬—絕緣體—半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管,英文名為metaloxidesemiconductor(MOSFET).是1種能夠普遍應(yīng)用在模擬電路與數(shù)字電路的場效晶體管。依據(jù)其“通道”(工作載流子)的極性差異,可分成“N型”與“P型”的兩個類型,也就是常說的NMOS、PMOS。
MOS管
MOS管工作原理
MOS管根據(jù)工作方式又可以劃分增強型和耗盡型,增強型指的是MOS管并沒有加偏置電壓時,并沒有導(dǎo)電溝道,耗盡型則指的是MOS管并沒有加偏置電壓時,就會有導(dǎo)電溝道出現(xiàn)。在實際的運用中,也只有N溝道增強型和P溝道增強型的MOS管,鑒于NMOS管導(dǎo)通內(nèi)阻小,且易于生產(chǎn)制造,因此在實際的運用中NMOS要比PMOS要更常見些。
增強型MOS管的漏極D和源極S兩者之間有兩個背對背的PN結(jié)。當柵-源電壓VGS=0時,即便再加上漏-源電壓VDS,總有個PN結(jié)處在反偏的狀態(tài),漏-源極間并沒有導(dǎo)電溝道(并沒有電流流過),因此這時候漏極電流ID=0。
這時若在柵-源極間再加正向電壓,即VGS>0,則柵極和硅襯底兩者之間的SiO2絕緣層中便產(chǎn)生1個柵極對準P型硅襯底的電場,因為氧化物層是絕緣性的,柵極所加電壓VGS不能產(chǎn)生電流,氧化物層的兩側(cè)就產(chǎn)生了1個電容,VGS等效電路是對這一個電容(電容器)充電,并產(chǎn)生1個電場,伴隨著VGS慢慢上升,受柵極正電壓的吸引,在這個電容(電容器)的另一側(cè)就集聚大量的電子并產(chǎn)生了1個從漏極到源極的N型導(dǎo)電溝道,當VGS超過管子的開啟電壓VT(一般約為2V)時,N溝道管剛開始導(dǎo)通,產(chǎn)生漏極電流ID,我們把剛開始產(chǎn)生溝道時的柵-源極電壓稱為開啟電壓,一般用VT表示。操控柵極電壓VGS的大小轉(zhuǎn)變了電場的強與弱,就可以實現(xiàn)操控漏極電流ID的大小的效果,這也是MOS管用電場來操控電流的1個重要特點,因此也將之稱為場效應(yīng)管。
MOSFET內(nèi)部結(jié)構(gòu)
在一片夾雜濃度值較低的P型硅襯底上,制做倆個高夾雜濃度值的N+區(qū),并且用金屬鋁引出來倆個電極,各自作漏極d和源極s。隨后在半導(dǎo)體表層覆蓋一層極薄的二氧化硅(SiO2)絕緣層,在漏——源極間的絕緣層上再裝上一個鋁電極,當做柵極g。在襯底上也引出來一個電極B,這就形成了一個N溝道增強型MOS管。P溝道增強型的MOS管內(nèi)部形成也是同樣的道理。
MOS管的電路符號
上圖為MOS管的電路符號,圖中D是漏極,S是源極,G是柵極,中間的箭頭表示襯底,如果箭頭向里表示是N溝道的MOS管,箭頭向外表示是 P溝道的MOS管。
MOS管的電路符號
實際上在MOS管生產(chǎn)制造的環(huán)節(jié)中襯底在出廠前就和源極相互連接,故而在符號的準則中,代表襯底的箭頭符號也務(wù)必和源極相互連接,以區(qū)分漏極和源極。MOS管運用電壓的極性與我們傳統(tǒng)的晶體三極管相似,N溝道類似于NPN晶體三極管,漏極D接正極,源極S接負極,柵極G正電壓時導(dǎo)電溝道形成,N溝道MOS管則開始工作。相同地,P道的類似于PNP晶體三極管,漏極D接負極,源極S接正極,柵極G負電壓時,導(dǎo)電溝道形成,P溝道MOS管開始工作。
MOS管開關(guān)損耗原理
無論是NMOS或是PMOS,導(dǎo)通后均有導(dǎo)通內(nèi)阻產(chǎn)生,這樣一來電流便會在這個內(nèi)阻上消耗能量,這一部分消耗的能量稱作導(dǎo)通消耗。選取導(dǎo)通內(nèi)阻小的MOS管會有效降低導(dǎo)通消耗。目前的小功率MOS管導(dǎo)通內(nèi)阻一般而言在幾十毫歐左右,幾毫歐的也是有。
MOS在導(dǎo)通和終止的時候,必定不是在一瞬間實現(xiàn)的。MOS兩邊的電壓會有一個有效降低的環(huán)節(jié),流經(jīng)的電流會有一個上升的環(huán)節(jié),在這段時間內(nèi),MOS管的損耗是電壓和電流的乘積,也就是開關(guān)損耗。一般而言開關(guān)損耗比導(dǎo)通損耗大上許多,并且開關(guān)頻率越快,損耗也越大。
MOS管開關(guān)損耗原理圖
導(dǎo)通的瞬間電壓和電流的乘積很大,導(dǎo)致的損耗也就很大。通過兩種方式可以降低開關(guān)損耗,一是縮減開關(guān)時間,能夠有效降低每回導(dǎo)通時的損耗;二是降低開關(guān)頻率,能夠減少單位時間內(nèi)的開關(guān)次數(shù)。
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