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  • 功率MOSFET并聯(lián)時產(chǎn)生寄生振蕩的原因與解決方法
    • 發(fā)布時間:2019-12-31 15:36:48
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    功率MOSFET并聯(lián)時產(chǎn)生寄生振蕩的原因與解決方法
    功率MOS管即功率MOSFET,具有熱漂移小,驅(qū)動電路簡單,驅(qū)動功率小,開關(guān)速度快,工作頻率高等優(yōu)點。憑借出色的熱穩(wěn)定性,將多個功率MOSFET并聯(lián)的方法可行而簡單,這對提高輸出電流非常有意義。
    事實上,MOSFET工作于高頻率開關(guān)狀態(tài),任何電氣特性差異和電路雜散電感均可導致瞬時電壓峰值,以及并聯(lián)MOSFET之間的電流分配不平衡。這是非常有害的,因為電流不平衡可能導致功率損耗過大并損壞器件。
    功率MOSFET
    并聯(lián)MOSFET(左)及寄生振蕩狀態(tài)的等效電路(右)
    并聯(lián)連接時,最重要的是避免電流集中(包括在開關(guān)轉(zhuǎn)換期間),并確保在所有可能的負載條件下,流向所有MOSFET的電流保持平衡且均勻。應(yīng)特別注意以下方面:
    (1) 因器件特性不匹配(并聯(lián)運行)導致的電流不平衡。
    (2) 寄生振蕩(并聯(lián)運行)。
    1. 器件不匹配導致的電流不平衡
    (1) 穩(wěn)態(tài)運行中的電流不平衡
    在非開關(guān)期間,按照與并聯(lián)MOSFET的導通電阻成反比的方式為其分配電流。導通電阻最低的MOSFET將承載最高的電流。導通電阻的正溫度系數(shù)通常會為電流不平衡提供補償,使通過各個 MOSFET的電流相等。
    因此,認為并聯(lián)MOSFET在穩(wěn)態(tài)情況下很少出現(xiàn)熱擊穿。MOSFET體二極管中壓降的溫度系數(shù)非正值。因此,并聯(lián)MOSFET在其體二極管處于導通時,可能使穩(wěn)態(tài)電流的分配出現(xiàn)大幅不平衡現(xiàn)象。但事實上,MOSFET的體二極管在通過電流時,MOSFET的溫度升高。所以,當其導通電阻增大時,其流過的電流就會減小。因此,穩(wěn)態(tài)電流中的不平衡很少會造成問題。
    (2)開關(guān)轉(zhuǎn)換期間的電流不平衡
    一般來說,開通和關(guān)斷開關(guān)轉(zhuǎn)換期間會出現(xiàn)電流不平衡現(xiàn)象。這是由于并聯(lián)功率MOSFET之間的開關(guān)時間差異所致。開關(guān)時間的差異很大程度上取決于柵源閾值電壓Vth的值。即Vth值越小,開通時間越快;Vth值越大,關(guān)斷時間越快。因此,當電流集中在Vth較小的MOSFET中時,開通和關(guān)斷期間都會發(fā)生電流不平衡現(xiàn)象。這種電流不平衡會對器件施加過高的負載,并引發(fā)故障。并聯(lián)連接時,為了減少瞬態(tài)開關(guān)期間的開關(guān)時間差異,最好使用Vth接近的功率MOSFET。對于跨導gm較高的MOSFET,開關(guān)時間也會更快。
    此外,如果并聯(lián)MOSFET在其互連線路中的雜散電感不同,電路接線布局也是開關(guān)轉(zhuǎn)換期間引發(fā)電流不平衡的一個原因。尤其是源極電感會影響柵極驅(qū)動電壓。最好使并聯(lián)MOSFET之間的互連線路長度相等。
    2. 并聯(lián)運行的寄生振蕩
    (1)因漏源電壓振蕩導致的柵極電壓振蕩
    開關(guān)期間MOSFET的漏極端子和源極端子中會發(fā)生浪涌電壓VSurge,主要是因為關(guān)斷期間的di/dt和漏極端子及引線中的雜散電感(Ld)。如果VSurge導致的振蕩電壓通過MOSFET漏柵電容Cgd傳輸?shù)綎艠O,就會與柵極線路的雜散電感L形成諧振電路。
    高電流、高速MOSFET的內(nèi)部柵極電阻極小。在無外部柵極電阻器的情況下,該諧振電路的品質(zhì)因數(shù)會很大。如果發(fā)生諧振,諧振電路會在MOSFET的柵極端子和源極端子中產(chǎn)生很大的振蕩電壓,導致發(fā)生寄生振蕩。
    除非并聯(lián)MOSFET的瞬態(tài)開關(guān)電流在關(guān)斷期間平衡良好,否則電流會不均勻地分配到之后關(guān)斷的MOSFET。該電流在漏極端子和源極端子中產(chǎn)生很大的電壓浪涌(振蕩),而電壓浪涌又傳遞到柵極,導致柵極端子和源極端子中產(chǎn)生振蕩電壓。如振蕩電壓過大,會導致發(fā)生柵源過電壓故障、開通故障或振蕩故障。
    當最快的MOSFET關(guān)斷時,其漏極電壓上升。漏極電壓的上升通過柵漏電容Cgd傳遞到另一個MOSFET的柵極端子,導致MOSFET發(fā)生意外運轉(zhuǎn),造成寄生振蕩。
    此外,并聯(lián)MOSFET共用一個低阻抗路徑,因此也很容易發(fā)生寄生振蕩。
    (2)并聯(lián)MOSFET的寄生振蕩
    一般來說,并聯(lián)MOSFET比單個MOSFET更易發(fā)生寄生振蕩。這是由于漏極線路、源極線路、柵極線路、接合線和其它線路中的雜散電感,以及MOSFET的結(jié)電容導致的。
    不過,寄生振蕩的發(fā)生與漏源負載、續(xù)流二極管、電源、共用柵極電阻器和柵極驅(qū)動電路無關(guān)。換句話說,可忽略續(xù)流二極管和串聯(lián)電阻器(如電容器的等效串聯(lián)電阻器)的導通電阻。因此,并聯(lián)MOSFET形成了具有高品質(zhì)因數(shù)的諧振電路,由于具有高增益的反饋環(huán)路,該諧振電路極易發(fā)生振蕩。
    3. MOSFET寄生振蕩的預防
    并聯(lián)MOSFET的諧振電路由寄生電感和寄生電容組成(取決于其頻率)。
    要避免發(fā)生寄生振蕩,首先選擇MOSFET時要求Cds/Cgs比值較低,gm值較小,這樣就不容易發(fā)生振蕩。
    功率MOSFET
    為每個MOSFET插入一個柵極電阻器可減小諧振
    除了器件本身屬性,也可以使用外部電路來防止發(fā)生寄生振蕩,這里有兩種方法:
    (1)為每個MOSFET的柵極插入一個柵極電阻器R1或一個鐵氧體磁珠,這樣可減小諧振電路的品質(zhì)因數(shù),從而減小正反饋環(huán)路的增益。實驗證實,為并聯(lián)的每個MOSFET插入串聯(lián)柵極電阻器可以有效防止發(fā)生寄生振蕩。
    (2)在MOSFET的柵極和源極之間添加一個陶瓷電容器。
    功率MOSFET
    在MOSFET柵極和源極之間添加陶瓷電容器能預防寄生振蕩
    上述方法中,gm值較小的MOSFET價格會稍高,其他兩種方法可由用戶自行優(yōu)化。不過,柵極電阻器會影響MOSFET的開關(guān)速度,電阻值會導致開關(guān)損耗增大;在柵極和源極之間添加電容器時應(yīng)小心,電容器種類和容值選擇不當會產(chǎn)生反作用。
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