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  • 雪崩二極管內(nèi)置器件與靜電毀壞原因
    • 發(fā)布時間:2019-08-05 15:06:42
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    雪崩二極管
    第一種:雪崩毀壞
    假如在漏極-源極間外加超出器件額定VDSS的電涌電壓,而且到達擊穿電壓V(BR)DSS (依據(jù)擊穿電流其值不同),并超出一定的能量后就發(fā)作毀壞的現(xiàn)象。在介質(zhì)負載的開關(guān)運轉(zhuǎn)斷開時產(chǎn)生的回掃電壓,或者由漏磁電感產(chǎn)生的尖峰電壓超出功率MOSFET的漏極額定耐壓并進入擊穿區(qū)而招致毀壞的形式會惹起雪崩毀壞。典型電路:
    雪崩二極管
    雪崩二極管
    第二種:器件發(fā)熱損壞
    由超出安全區(qū)域惹起發(fā)熱而招致的。發(fā)熱的緣由分為直流功率和瞬態(tài)功率兩種。直流功率緣由:外加直流功率而招致的損耗惹起的發(fā)熱
    ●導(dǎo)通電阻RDS(on)損耗(高溫時RDS(on)增大,招致一定電流下,功耗增加)
    ●由漏電流IDSS惹起的損耗(和其他損耗相比極?。┧矐B(tài)功率緣由:外加單觸發(fā)脈沖
    ●負載短路
    ●開關(guān)損耗(接通、斷開) *(與溫度和工作頻率是相關(guān)的)
    ●內(nèi)置二極管的trr損耗(上下橋臂短路損耗)(與溫度和工作頻率是相關(guān)的)器件正常運轉(zhuǎn)時不發(fā)作的負載短路等惹起的過電流,形成瞬時部分發(fā)熱而招致毀壞。
    另外,由于熱量不相配或開關(guān)頻率太高使芯片不能正常散熱時,持續(xù)的發(fā)熱使溫度超出溝道溫度招致熱擊穿的毀壞。
    雪崩二極管
    雪崩二極管
    第三種:內(nèi)置二極管毀壞
    在DS端間構(gòu)成的寄生二極管運轉(zhuǎn)時,由于在Flyback時功率MOSFET的寄生雙極晶體管運轉(zhuǎn),招致此二極管毀壞的形式。
    雪崩二極管
    雪崩二極管
    第四種:由寄生振蕩導(dǎo)致的毀壞
    此毀壞方式在并聯(lián)時特別容易發(fā)作在并聯(lián)功率MOSFET時未插入柵極電阻而直接銜接時發(fā)作的柵極寄生振蕩。高速重復(fù)接通、斷開漏極-源極電壓時,在由柵極-漏極電容Cgd(Crss)和柵極引腳電感Lg構(gòu)成的諧振電路上發(fā)作此寄生振蕩。當(dāng)諧振條件(ωL=1/ωC)成立時,在柵極-源極間外加遠遠大于驅(qū)動電壓Vgs(in)的振動電壓,由于超出柵極-源極間額定電壓招致柵極毀壞,或者接通、斷開漏極-源極間電壓時的振動電壓經(jīng)過柵極-漏極電容Cgd和Vgs波形堆疊招致正向反應(yīng),因而可能會由于誤動作惹起振蕩毀壞。
    雪崩二極管
    雪崩二極管
    第五種:柵極電涌、靜電毀壞
    主要有因在柵極和源極之間假如存在電壓浪涌和靜電而惹起的毀壞,即柵極過電壓毀壞和由上電狀態(tài)中靜電在GS兩端(包括裝置和和測定設(shè)備的帶電)而招致的柵極毀壞。
    雪崩二極管
    雪崩二極管
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